2024年10月23日，为进一步推动校企合作向纵深发展，加强科技与产业的深度融合，全国高校“双带头人”教师党支部书记强国行专项团队张乐教授、物电学院教授周春明等应天通凯巨科技有限公司邀请参加一场以“X射线衍射（XRD）技术解析晶体质量偏差”为主题的专题讲座。此次讲座不仅是对天通凯巨生产的华为产品晶体角度偏差问题的直接回应，更是校企双方携手解决技术难题、共同推动科技创新的重要举措。

讲座中，张乐教授深入浅出地讲解了XRD技术的基本原理、应用领域以及如何解决晶体角度偏差等实际问题。他结合自己多年来的研究成果和成功案例，详细剖析了影响晶体质量的多种因素，并重点介绍了如何通过优化XRD测试条件、提高数据处理精度等方法来准确判断晶体质量。同时，他还针对华为产品晶体角度与公司自测结果存在偏差的问题，提出了针对性的解决方案和建议。

在互动环节，天通凯巨技术人员积极提问，就自身在工作中遇到的技术难题与张乐教授进行了深入交流。总经理表示，此次讲座激发了员工对于技术创新和解决问题的热情，拓展了解决问题的思路和方法，更进一步推动了校企双方在科技创新领域的合作与交流。

最后，校企双方表示，将继续加强合作，共同攻克技术难题，推动科技创新与产业发展的深度融合，创造出更多具有自主知识产权的高科技产品，为我国科技事业的发展做出更大的贡献。